SBJDCS-D介电常数及介质损耗测试仪装置

    SBJDCS-D 介电常数和介质损耗测试仪装置由介电常数测试仪、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对绝缘材料进行频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

   SBJDCS-D介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是100kHz～100MHz,它能完成工作频率内材料的频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

   本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用SBJDCS-2852D或SBJDCS-2853D数字介电常数及介质损耗测试仪装置具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。

1 特点：

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在100kHz～100MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ TFT彩屏菜单式显示多参数：介电常数(ε),介质损耗角(tanδ),Q值，测试频率，调谐状态和调谐电容值等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz（SBJDCS-2852A/D）,50kHz～160MHz（SBJDCS-2853A/D）测试信号。独立信号源输出口，所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

2 主要技术指标：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率100kHz～100MHz的tan δ 和 ε 变化的测试。

2.1.2 tan δ 和 ε 测量范围：

   tan δ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tan δ 和 ε 测量精度（1MHz）：

   tan δ：±5%±0.00005，ε：±2%

2.3 介质损耗装置： 

   按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。例如：在1MHz测试频率时，要配100μH 或250μH 电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。