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SBJDCS系列高频介电常数及介质损耗测试仪选型 功能升级 |
发布者：扬州市拓腾电气有限公司 发布时间：2016/11/5 |
SBJDCS-A/B/B+/C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。
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